Characterization of Graphene using XPS and REELS

本文探討了通過XPS和反射電子能量損失譜（REELS）的結(jié)合，以提供石墨烯樣品的化學(xué)和結(jié)構(gòu)特性，包括樣品的厚度。PHI XPS的反射電子能量損失譜（REELS）可以進一步確認石墨烯已成功制備在Si基底上。而且REELS譜峰的位置和強度與石墨烯薄膜的厚度成正比，這開啟了基于能量損失光譜開發(fā)石墨烯厚度定量校準曲線的潛力。使用 PHI 的 StrataPHI 薄膜結(jié)構(gòu)算法可以計算樣品的石墨烯層的厚度，以及它上面的外來污染碳。 

Li, C., Xu, YT., Zhao, B. et al. Flexible graphene electrothermal films made from electrochemically exfoliated graphite. J Mater Sci 51, 1043–1051 (2016). https://doi.org/10.1007/s10853-015-9434-x

本文主要報道了一種通過在鎢酸鈉水鹽電解質(zhì)中對石墨進行電化學(xué)剝離來制備石墨烯納米片，然后通過在PET襯底上轉(zhuǎn)移石墨烯納米片獲得電熱薄膜。XPS用于研究石墨烯在H2 5%-Ar氣流中150℃退火前后（熱處理）的情況，。石墨烯納米片的C1s XPS光譜表明，通過電化學(xué)剝離獲得的石墨烯納米片氧化程度較低。石墨烯納米片在退火前后的官能團未發(fā)生明顯變化，但是退火后C-O/C=O/O-C=O的譜峰強度降低，說明在退火過程中，石墨烯納米片發(fā)生了有效還原。